EP2045643B1

Scanning microscope for examining microscopic preparations and lighting device for same

Abstract

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EP2045643B1, drawing sheet 1
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Expired 1 June 2021, 5.3 years ago.

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8 claims: 3 independent, 5 dependent

  1. 1
    Scan-Mikroskop zum Untersuchen mikroskopischer Präparate, das einen Laser (1) und ein optisches Mittel (12) umfasst, das das von dem Laser (1) erzeugte Licht auf eine zu untersuchende Probe (13) abbildet, wobei ein akustooptisches Filter (AOTF 16) mit einer AOTF-Ansteuerung als Mittel zur Wellenlängenauswahl (16) und eine Lichtleitfaser (3, 20, 51) vorgesehen sind, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen dem als Pulslaser (1) ausgebildeten Laser und dem optischen Mittel (12) ein optisches Bauelement (3, 20, 51) vorgesehen ist, das das vom Pulslaser (1) erzeugte Licht bei einmaligem Durchlauf spektral verbreitert, derart, dass aus ihm ein spektral breitbandiges Beleuchtungslicht (4) austritt, wobei die Lichtleitfaser (3, 20, 51) das optische Bauelement bildet, die Mittel zur Wellenlängenauswahl Mittel (16) zum Abschwächen und/oder Ausblenden des Lichts mindestens einer Wellenlänge oder mindestens eines Wellenlängenbereichs umfassen und der Lichtleitfaser (3, 20, 51) nachgeordnet sind, dass die Lichtleitfaser aus Photonic-Band-Gap-Material besteht, und dass eine optische Diode zwischen dem Laser und der Lichtleitfaser vorgesehen ist, die eine Rückreflexion des Lichtstrahls des Lasers, die von den Enden der Lichtleitfaser herrührt, unterdrückt.
  2. 2
    Scan-Mikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtleitfaser (51) eine Verjüngung (53) aufweist.
  3. 3
    Scan-Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 2, dadurch gekennzeichnet, dass Mittel (25, 26) zur Lichtleistungsstabilisierung vorgesehen sind.
  4. 4
    Scan-Mikroskop nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass zur Lichtleistungsstabilisierung ein Regelkreis vorgesehen ist.
  5. 5
    Scan-Mikroskop nach einem der vorherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Scan-Mikroskop ein Konfokalmikroskop ist.
  6. 6
    Scan-Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass das Austrittsende (20b) der Lichtleitfaser (20) als Beleuchtungsblende dient.
  7. 7
    Beleuchtungseinrichtung für ein Scan-Mikroskop, mit einem Laser (1), der eine Lichtaustrittsöffnung umfasst, wobei ein akustooptisches Filter (AOTF 16) mit einer AOTF-Ansteuerung als Mittel zur Wellenlängenauswahl (16) und eine Lichtleitfaser (3, 20, 51) vorgesehen sind, dadurch gekennzeichnet, dass der Laser als Pulslaser (1) ausgebildet ist, dessen Licht über die Lichtaustrittsöffnung einem optischen Bauelement (3, 20, 51) zugeführt ist, das das vom Pulslaser (1) erzeugte Licht bei einmaligem Durchlauf spektral verbreitert, derart, dass aus ihm ein spektral breitbandiges Beleuchtungslicht (4) austritt, wobei die Lichtleitfaser (3, 20, 51) das optische Bauelement bildet, die Mittel zur Wellenlängenauswahl Mittel (16, 18;23, 24) zum Abschwächen und/oder Ausblenden des Lichts mindestens einer Wellenlänge oder mindestens eines Wellenlängenbereichs umfassen und der Lichtleitfaser (3, 20, 51) nachgeordnet sind, dass die Lichtleitfaser aus Photonic-Band-Gap-Material besteht, und dass eine optische Diode zwischen dem Laser und der Lichtleitfaser vorgesehen ist, die eine Rückreflexion des Lichtstrahls des Lasers, die von den Enden der Lichtleitfaser herrührt, unterdrückt.
  8. 8
    Beleuchtungseinrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtleitfaser (51) eine Verjüngung (53) aufweist.