TW587166B

Polyelectrolytic internal calibration system of a flow-through assay

Abstract

A flow-through assay for detecting the quantity of an analyte residing in a test sample is provided. The flow-through assay contains a porous membrance that is influid communication with probe conjugates that contain a specific binding member and a detectable probe. The porous membrane also defines a detection zone and a calibration zone. The calibration zone cantains a polyelectrolyte substantially non-diffusively immobilized on the porous membrance. The polyelectrolyte is capable of generating a detectable calibration signal that can be readily compared (visually, quantitatively, and the like) to a detection signal to determine the amount of analyte in the test sample.

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23 claims: 23 independent, 0 dependent

  1. 1
    一種溢流道檢驗,其可在測試樣品中測試分析物存在或數量,此溢流道包含多孔薄膜,其中多孔薄膜與包含特殊結合物質及可察覺探子的探子結合物流動相連,多孔薄膜的定義:一個包含捕捉劑的檢波區其能夠結合分析物或探子結合物物,其中檢波區能產生檢波信號,其反應分析物存在或不存在;一個校正區,其中聚電解質非分散固定在校正區的多孔膜上,能結合探子結合物以產生校正信號,因此在測試樣品中分析物相對數量由比較檢波信號與第一校正信號及第二校正信號偵測。
  2. 2
    如申請專利範圍第1項之溢流道檢驗,其中聚電解質為正電荷。
  3. 3
    如申請專利範圍第2項之溢流道檢驗,其中聚電解質由聚離胺酸,聚乙醇胺,環氧氯丙噻官能聚胺及/或聚氨基胺,聚二丙烯二甲基-氯化鋁,陽離子纖維素,及相似物中選擇。
  4. 4
    如申請專利範圍第1項之溢流道檢驗,其中聚電解質為負電荷。
  5. 5
    如申請專利範圍第1項之溢流道檢驗,其中聚電解質為兩性電荷。
  6. 6
    如申請專利範圍第1項之溢流道檢驗,其中校正區包含至少兩個有不同聚電解質濃度的區域。
  7. 7
    如申請專利範圍第1項之溢流道檢驗,其中聚電解質與存在於多孔薄膜表面的官能基離子結合。
  8. 8
    如申請專利範圍第1項之溢流道檢驗,其中聚電解質與存在於多孔薄膜表面的官能基共價結合。
  9. 9
    如申請專利範圍第8項之溢流道檢驗,其中聚電解質與官能基交聯。
  10. 10
    如申請專利範圍第1項之溢流道檢驗,其中可偵測探子從發光體,催化劑,螢光物質,化學發光物質,放射性標籤,可見標籤,微脂粒,及結合物中選擇。
  11. 11
    如申請專利範圍第1項之溢流道檢驗,其中特殊結合薄膜從抗原,半抗原,抗體,及複合物中選擇。
  12. 12
    如申請專利範圍第1項之溢流道檢驗,其中捕捉劑從抗原,半抗原,抗體,及複合物中選擇。
  13. 13
    如申請專利範圍第1項之溢流道檢驗,其中檢驗為夾層式檢驗。
  14. 14
    如申請專利範圍第1項之溢流道檢驗,其中檢驗為競爭式檢驗。
  15. 15
    一種溢流道檢驗,其可在測試樣品中測試分析物存在或數量,此溢流道包含多孔薄膜,其中多孔薄膜與包含特殊結合物質及可察覺探子的探子結合物流動相連,探子結合構型以與測試樣品中的分析物結合,當與此接觸時,探子結合物/分析物複合物及未複合探子結合物形成,其中多孔薄膜定義:一個檢波區,其中捕捉劑為非散布固定在多孔薄膜,捕捉劑能夠結合探子結合物/分析物複合物,其中檢波區能夠產生檢波信號;一個校正區其中一定量的聚電解質非分散固定在多孔薄膜上,聚電解質能結合非複合探子結合物以產生校正信號,因此在測試樣品中分析物相對數量由比較檢波信號與第一校正信號及第二校正信號偵測。
  16. 16
    如申請專利範圍第15項之溢流道檢驗,其中校正區包含至少兩個有不同聚電解質濃度的區域。
  17. 17
    如申請專利範圍第15項之溢流道檢驗,其中聚電解質與存在於多孔薄膜表面的官能基離子結合。
  18. 18
    如申請專利範圍第15項之溢流道檢驗,其中聚電解質與存在於多孔薄膜表面的官能基共價結合。
  19. 19
    如申請專利範圍第18項之溢流道檢驗,其中聚電解質與官能基交聯。
  20. 20
    一種溢流道檢驗,其可在測試樣品中測試分析物存在或數量,此溢流道包含多孔薄膜,其中多孔薄膜與包含特殊結合物質及可察覺探子的探子結合物流動相連,其中多孔薄膜的定義:一個檢波區,其中一定量的捕捉劑為非散布固定在多孔薄膜,捕捉劑能夠結合探子結合物及分析物,其中檢波區能夠產生檢波信號;且一個校正區其中聚電解質非分散固定在多孔薄膜上,聚電解質能和未與捕捉劑結合的探子結合物結合以產生校正信號,因此在測試樣品中分析物相對數量由比較檢波信號與第一校正信號及第二校正信號偵測。
  21. 21
    如申請專利範圍第20項之溢流道檢驗,其中特殊的結合物質與分析物 同源。
  22. 22
    一種溢流道檢驗,其可在測試樣品中測試分析物存在或數量,此溢流道包含多孔薄膜,其中多孔薄膜與包含特殊結合物質及可察覺探子的探子結合物流動相連,探子結合構型以與測試樣品中的分析物結合,當與此接觸時,探子結合物/分析物複合物及未複合探子結合物形成,其中多孔薄膜定義:一個檢波區,其中捕捉劑為非散布固定在多孔薄膜,捕捉劑能夠結合未複合探子結合物,其中檢波區能夠產生檢波信號;一個校正區其中聚電解質非分散固定在多孔薄膜上,聚電解質能和探子結合物/分析物複合物及殘餘未結合至捕捉劑的探子結合物結合,校正區能產生校正信號,因此在測試樣品中分析物相對數量由比較檢波信號與第一校正信號及第二校正信號偵測。
  23. 23
    如申請專利範圍第22項之溢流道檢驗,其中捕捉劑與分析物同源。
Independent claims23