TW200529226A

Data structure design system and method for prolonging useful life of FRAM

Abstract

A data structure design system and method for prolonging useful life of FRAM is disclosed. The system comprises a CPU, a FRAM, a SDRAM and a Calculagraph. The FRAM, the SDRAM and the Calculagraph are connected with the CPU through a BUS. The method stores information in the FRAM by three data structures designed in the SDRDM, which makes average use of each block of the FRAM in order to prolong useful life of the FRAM.

Term

No projected expiry on record.

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20 claims: 20 independent, 0 dependent

  1. 1
    一種延長鐵電記憶體使用壽命之資料結構設計系統,其包括有一中央處理器、一鐵電記憶體、一同步動態記憶體及一計時器,其中:鐵電記憶體連接一中央處理器,該鐵電記憶體在邏輯上被劃分為複數固定大小之區塊,用於存儲資料;同步動態記憶體,用於存儲需寫入鐵電記憶體中之資料,其在邏輯上被劃分為複數固定大小之區塊,且在其中含有三個記錄區塊之資料結構:隊列一、隊列二及Hash表,其中隊列一由空區塊及存儲未被使用資料之區塊組成,隊列二由存儲已經不再使用且尚未從鐵電記憶體中移除相關資料之區塊組成,Hash表記錄存儲正在使用中且已在鐵電記憶體中記錄該資料之區塊;中央處理器,用於通過該三個資料結構來對鐵電記憶體與同步動態記憶體所存儲之資料進行讀寫操作,或通過系統匯流排從外部資料源接收資料;及計時器,用於記錄鐵電記憶體區塊中存儲之資料未被讀取的時間。
  2. 2
    如申請專利範圍第1項所述之延長鐵電記憶體使用壽命之資料結構設計系統,其中所述之鐵電記憶體、同步動態記憶體及計時器藉由一系統匯流排與中央處理器相連。
  3. 3
    如申請專利範圍第1項所述之延長鐵電記憶體使用壽命之資料結構設計系統,其中隊列一中存儲的區塊與鐵電記憶體中空區塊及存儲未被使用資料之區塊一一對應。
  4. 4
    如申請專利範圍第1項所述之延長鐵電記憶體使用壽命之資料結構設計系統,其中隊列二包含的區塊與鐵電記憶體中的存儲不再被使用資料之區塊一一對應。
  5. 5
    如申請專利範圍第1項所述之延長鐵電記憶體使用壽命之資料結構設計系統,其中Hash表記錄的區塊與鐵電記憶體中存儲正在使用資料之區塊一一對應。
  6. 6
    一種延長鐵電記憶體使用壽命之資料結構設計方法,該方法包括步驟如下:將鐵電記憶體劃分為複數區塊;將同步動態記憶體劃分為三個存儲空間;將每個存儲空間劃分為複數區塊;設置對應於該三個存儲空間之三個資料結構:隊列一、隊列二及Hash表於同步動態記憶體中;將三個資料結構中之區塊與鐵電記憶體中之區塊一一對應;讀取外部資料源中一筆資料;更新隊列二中包含之區塊;將上述該筆資料寫入隊列一之空區塊中;及將隊列一中需寫入鐵電記憶體之資料寫入鐵電記憶體之對應區塊。
  7. 7
    如申請專利範圍第6項所述之延長鐵電記憶體使用壽命之資料結構設計方法,其中還包括步驟判斷同步動態記憶體之隊列一中是否有空區塊。
  8. 8
    如申請專利範圍第7項所述之延長鐵電記憶體使用壽命之資料結構設計方法,其中判斷該同步動態記憶體的隊列一中是否有空區塊之步驟還包括步驟如果隊列一中有空區塊,則寫入該資料到隊列一之空區塊中。
  9. 9
    如申請專利範圍第7項所述之延長鐵電記憶體使用壽命之資料結構設計方法,其中判斷該同步動態記憶體的隊列一中是否有空區塊之步驟還包括步驟如果隊列一中沒有空區塊,則刪除隊列二中前複數區塊及對應鐵電記憶體區塊中之資料。
  10. 10
    如申請專利範圍第6項所述之延長鐵電記憶體使用壽命之資料結構設計方法,其中還包括步驟將隊列二中刪除資料後之空區塊放入隊列一。
  11. 11
    如申請專利範圍第6項所述之延長鐵電記憶體使用壽命之資料結構設計方法,其中還包括步驟判斷外部資料源中之資料是否已經讀完。
  12. 12
    如申請專利範圍第11項所述之延長鐵電記憶體使用壽命之資料結構設計方法,其中判斷外部資料源中之資料是否已經讀完之步驟還包括步驟如果外部資料源中之資料未讀完,則繼續讀取外部資料源中一筆資料。
  13. 13
    如申請專利範圍第11項所述之延長鐵電記憶體使用壽命之資料結構設計方法,其中判斷外部資料源中之資料是否已經讀完之步驟還包括步驟如果外部資料源中資料已經讀完,則查找隊列二中是否有需寫入鐵電記憶體中之資料。
  14. 14
    如申請專利範圍第13項所述之延長鐵電記憶體使用壽命之資料結構設計方法,其中查找隊列二中是否有需寫入鐵電記憶體中之資料之步驟還包括步驟如果隊列二中有需寫入鐵電記憶體中之資料,則將存儲該資料之區塊放入Hash表。
  15. 15
    如申請專利範圍第13項所述之延長鐵電記憶體使用壽命之資料結構設計方法,其中查找隊列二中是否有需寫入鐵電記憶體中之資料之步驟還包括步驟如果隊列二中是沒有需寫入鐵電記憶體中之資料,則查找隊列一中是否有該資料。
  16. 16
    如申請專利範圍第15項所述之延長鐵電記憶體使用壽命之資料結構設計方法,其中查找隊列一中是否有該資料之步驟還包括步驟如果隊列一中有該資料,流程結束。
  17. 17
    如申請專利範圍第15項所述之延長鐵電記憶體使用壽命之資料結構設計方法,其中查找隊列一中是否有該資料之步驟還包括步驟如果隊列一中有該資料,讀取該資料。
  18. 18
    如申請專利範圍第6項所述之延長鐵電記憶體使用壽命之資料結構設計方法,其中還包括步驟將隊列一中包含該資料之區塊放入Hash表。
  19. 19
    如申請專利範圍6項所述之延長鐵電記憶體使用壽命之資料結構設計方法,其中更新隊列二中包含區塊之步驟進一步包括步驟:初始化計時器為零;設置預定時間;判斷計時器是否顯示預定時間,如果計時器顯示該預定時間,查找該時間內鐵電記憶體中未被使用的資料區塊與隊列一中對應區塊;及將該隊列一中複數未被使用資料存儲區塊放入隊列二。
  20. 20
    如申請專利範圍第19項所述之延長鐵電記憶體使用壽命之資料結構設計方法,其中判斷計時器是否顯示預定時間之步驟還包括步驟如果計時器未顯示該預定時間,則流程結束。
Independent claims20