JP6355710B2

Three-dimensional coordinate scanner and method of operation

Abstract

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JP6355710B2, drawing sheet 1
Sheet 1 of 14

Term

Projected expiry 5 March 2034.

  1. Priority
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  4. Today
  5. Projected expiry

8 claims: 1 independent, 7 dependent

  1. 1
    非接触型光学三次元測定装置であって、 第1プロジェクタと第1カメラと第2プロジェクタと第2カメラとを含むアセンブリであって、前記第1プロジェクタと前記第1カメラと前記第2プロジェクタと前記第2カメラとが相互に対して固定関係にあり、前記第1プロジェクタが第1光源を有し、少なくとも一つのパターンを有する第1光を物体の表面に放射するように前記第1プロジェクタが構成され、前記第1カメラが第1レンズと第1感光アレイとを有し、前記表面で反射した前記第1光の第1部分を受容して相応の第1信号を生成するように前記第1カメラが構成され、前記第1カメラが第1視野を有して前記第1視野が前記第1カメラの第1視認角度領域であり、前記第2プロジェクタが第2光源を有して、前記物体の表面に第2光を放射するように前記第2プロジェクタが構成され、前記第2カメラが第2レンズと第2感光アレイとを有し、前記表面で反射した前記第2光の第2部分を受容して相応の第2信号を生成するように前記第2カメラが構成され、前記第2カメラが第2視野を有して前記第2視野が前記第2カメラの第2視認角度領域であり、前記第2視野が前記第1視野と異なる、アセンブリと、 前記第1プロジェクタと前記第2プロジェクタと前記第1カメラと前記第2カメラとに電気結合されて 、第 1時点で前記第1信号を収集させるとともに前記第1時点と異なる第2時点で前記第2信号を収集させることと、前記第1信号に少なくとも部分的に基づいて前記表面上の第1点の三次元座標を判断することと、前記第2信号に少なくとも部分的に基づいて前記表面上の第2点の三次元座標を判断することとを含む操作を実施するコンピュータ実行可能プログラムコードを実行するプロセッサと、 を包含 し 、 前記プロセッサにより実行させた時に、多経路干渉の存在を判断することと、前記多経路干渉が存在する場合は、前記第1時点と前記第2時点との間の第3時点で、前記アセンブリを第1位置から第2位置へ移動させることとを含む操作を実施するコンピュータ実行可能プログラムコードを実行するように前記プロセッサがさらに構成される、 非接触型光学三次元測定装置。
  2. 2
    前記第2光が、前記第2光の伝搬方向に対して垂直な方向の線状光である、請求項1に記載の非接触型光学三次元測定装置。
  3. 3
    前記少なくとも一つのパターンが、少なくとも三つの非共線パターン要素を含む、請求項1に記載の非接触型光学三次元測定装置。
  4. 4
    前記第2光が第2パターンを含み、前記第2パターンが少なくとも三つの非共線パターン要素を有する、請求項3に記載の非接触型光学三次元測定装置。
  5. 5
    前記線状光が時間掃引される直線パターンである、請求項2に記載の非接触型光学三次元測定装置。
  6. 6
    前記線状光が時間掃引されるスポット光である、請求項2に記載の非接触型光学三次元測定装置。
  7. 7
    前記第1視野が前記第2視野の少なくとも2倍の大きさである、請求項1に記載の非接触型光学三次元測定装置。
  8. 8
    前記第1感光アレイが第1ピクセルを含み、前記第1ピクセルが前記表面の第1エリアで反射された光を捕捉するように構成され、前記第2感光アレイが第2ピクセルを含み、前記第2ピクセルが前記表面の第2エリアで反射された光を捕捉するように構成され、前記第2エリアが前記第1エリアより小さい、請求項1に記載の非接触型光学三次元測定装置。
Independent claims8