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JP6239727B2

Flowmeter primary element with sensors

Abstract

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JP6239727B2, drawing sheet 1
Sheet 1 of 24

Term

Projected expiry 4 February 2034.

  1. Priority
  2. Filed
  3. Granted
  4. Today
  5. Projected expiry

33 claims: 5 independent, 28 dependent

  1. 1
    導管を通るプロセス流体の流量を測定するための流量計であって、 導管内に延び、プロセス流体中に、プロセス流体の流れによる差圧を生起させるピトー管と、 前記ピトー管の側部上に搭載され、プロセス流体の流れによって生成された圧力にさらされて、プロセス流体の上流側プロセス変数を感知するように構成された上流側プロセス変数センサと、 前記ピトー管の側部上に搭載された前記上流側プロセス変数センサの下流側で、前記ピトー管の側部上に搭載され、プロセス流体の流れによって生成された圧力にさらされて、プロセス流体の下流側プロセス変数を感知するように構成された下流側プロセス変数センサと、 前記上流側プロセス変数と前記下流側プロセス変数に基づいてプロセス流体の流量を決定するように構成された測定回路を具備した流量計。
  2. 2
    前記上流側および下流側プロセス変数センサは、圧力センサである請求項1に記載の流量計。
  3. 3
    さらに、前記ピトー管によって生起された差圧を感知するように構成された差圧センサを含む請求項1に記載の流量計。
  4. 4
    前記測定回路は、前記差圧センサにより測定された差圧と前記上流側および下流側プロセス変数センサにより測定された第1および第2圧力間の差に基づいて出力を提供する請求項3に記載の流量計。
  5. 5
    前記上流側および下流側のプロセス変数センサは、加えられた圧力に応答して変形する空洞が中に形成された非圧縮性の材料から成る請求項1に記載の流量計
  6. 6
    前記上流側および下流側プロセス変数センサの少なくとも1つは、温度センサである請求項1に記載の流量計。
  7. 7
    前記測定回路は、前記上流側および下流側プロセス変数に基づいて診断出力を提供する請求項1に記載の流量計。
  8. 8
    前記診断出力は、前記ピトー管の劣化に関連する請求項7に記載の流量計。
  9. 9
    前記診断出力は、前記ピトー管を圧力センサに結合するインパルス管の詰まりの指示を含む請求項7に記載の流量計。
  10. 10
    前記測定回路は、前記上流側および下流側プロセス変数に基づいてプロセス流体の流れプロフィルを決定する請求項1に記載の流量計。
  11. 11
    前記測定回路は、前記上流側および下流側プロセス変数の少なくとも1つの出力に基づいて前記ピトー管と前記導管の間の接触を検出する請求項1に記載の流量計。
  12. 12
    前記測定回路は、前記上流側および下流側プロセス変数の少なくとも1つに基づいてプロセス流体の密度を計算する請求項1に記載の流量計。
  13. 13
    前記測定回路は、前記上流側および下流側プロセス変数の少なくとも1つに基づいて質量流量を計算する請求項1に記載の流量計。
  14. 14
    前記質量流量は、プロセス変数の振幅に基づいて計算される請求項13に記載の流量計。
  15. 15
    前記上流側および下流側プロセス変数センサの少なくとも1つは、前記ピトー管の外側表面に搭載されている請求項1に記載の流量計。
  16. 16
    さらに、第2の下流側プロセス変数センサを含む請求項1に記載の流量計。
  17. 17
    前記上流側および下流側プロセス変数センサの少なくとも1つは、前記ピトー管のプレナムに搭載されている請求項1に記載の流量計
  18. 18
    導管を通って流れているプロセス流体の流量を測定する方法であって、 上流側および下流側圧力を生成するピトー管を、導管を通るプロセス流体の流れ中に配置すること、 上流側プロセス変数を感知するため、前記ピトー管の上流側側部に上流側プロセス変数センサを配置すること、 下流側プロセス変数を感知するため、前記ピトー管の下流側側部に下流側プロセス変数センサを配置すること、 感知された上流側プロセス変数と感知された下流側プロセス変数に基づいてプロセス流体の流量を決定すること、から成る方法。
  19. 19
    前記上流側および下流側プロセス変数センサは、圧力センサである請求項18に記載の方法。
  20. 20
    さらに、差圧センサを使用して前記上流側と下流側の間の差圧を感知することを含む請求項18に記載の方法。
  21. 21
    前記差圧センサにより測定された差圧と前記上流側および下流側プロセス変数センサにより測定された第1および第2圧力間の差に基づく出力を提供することを含む請求項20に記載の方法。
  22. 22
    補償することを含み、そこでは、前記差圧センサにより測定された差圧が前記上流側および下流側プロセス変数に基づいて補償される請求項 20 に記載の方法。
  23. 23
    前記上流側および下流側プロセス変数の少なくとも1つは、温度である請求項18に記載の方法。
  24. 24
    前記上流側および下流側プロセス変数に基づいて診断出力を提供することを含む請求項18に記載の方法。
  25. 25
    前記診断出力は、前記ピトー管の劣化に関連する請求項24に記載の方法。
  26. 26
    前記診断出力は、前記ピトー管を圧力センサに結合するインパルス管の詰まりの指示を含む請求項24に記載の方法。
  27. 27
    前記上流側および下流側プロセス変数に基づいてプロセス流体の流れプロフィルを決定することを含む請求項18に記載の方法。
  28. 28
    前記上流側および下流側プロセス変数の少なくとも1つに基づいてプロセス流体の密度を計算することを含む請求項18に記載の方法。
  29. 29
    前記上流側および下流側プロセス変数の少なくとも1つに基づいて質量流量を計算することを含む請求項18に記載の方法。
  30. 30
    前記上流側および下流側プロセス変数センサの少なくとも1つは、前記ピトー管の外側表面に搭載されている請求項18に記載の方法。
  31. 31
    前記上流側および下流側プロセス変数センサの少なくとも1つは、前記ピトー管のプレナムに搭載されている請求項18に記載の方法。
  32. 32
    導管を通るプロセス流体の流量を測定するための流量計であって、 導管内に延び、プロセス流体中に、プロセス流体の流れによる差圧を生起させるピトー管と、 前記ピトー管の側部上に搭載され、プロセス流体の流れによって生成された圧力にさらされて、プロセス流体の上流側プロセス変数を感知するように構成された上流側プロセス変数センサと、 前記ピトー管の側部上に搭載された前記上流側プロセス変数センサの下流側で、前記ピトー管の側部上に搭載され、プロセス流体の流れによって生成された圧力にさらされて、プロセス流体の下流側プロセス変数を感知するように構成された下流側プロセス変数センサと、 プロセス流体の流れによって生成された上流側圧力を伝える、前記ピトー管内の上流側プレナムと、 プロセス流体の流れによって生成された下流側圧力を伝える、前記ピトー管内の下流側プレナムと、 前記上流側および下流側プレナムの間に結合されて、上流側と下流側の圧力の間の差圧を測定するように構成された差圧センサと、 前記差圧センサにより測定された差圧に基づいてプロセス流体の流量を決定するように構成された測定回路を具備した流量計。
  33. 33
    導管を通るプロセス流体の流量を測定するための流量計であって、 導管内に延び、プロセス流体中に、プロセス流体の流れによる差圧を生起させるピトー管と、 前記ピトー管の側部上に搭載され、プロセス流体の流れによって生成された圧力にさらされて、プロセス流体の第1の横方向プロセス変数を感知するように構成された第1の横方向プロセス変数センサと、 前記ピトー管の側部上に搭載された前記上流側プロセス変数センサの下流側で、前記ピトー管の側部上に搭載され、プロセス流体の流れによって生成された圧力にさらされて、プロセス流体の第2の横方向プロセス変数を感知するように構成された第2の横方向プロセス変数センサと、 前記測定された第1および第2の横方向プロセス変数に基づいてプロセス流体の流量を決定するように構成された測定回路を具備した流量計。
Independent claims33