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JP5437796B2

Apparatus for measuring an object

Abstract

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JP5437796B2, drawing sheet 1
Sheet 1 of 9

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Expires 6 June 2027.

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20 claims: 4 independent, 16 dependent

  1. 1
    座標位置決め 装置における測定プローブを使用して物体の寸法が公差に合致しているかどうかを決定する方法であって、 前記物体の公差に基づいた前記物体に対する経路の回りを前記測定プローブを動かすステップと、 前記プローブが前記経路の回りで動かされるとき、該プローブによって取得されるあらゆるプローブ測定データを監視するステップと、 前記測定プローブが前記経路の回りで動かされるとき、取得される前記プローブ測定データの状態 に おいて変化がある場合のみ、前記物体の寸法が公差に合致していない かどうかを示す ステップと、を含む方法。
  2. 2
    前記座標位置決め装置は、工作機械 である請求項1に記載の方法。
  3. 3
    前記物体に対する前記経路は、少なくとも1つの第1経路と、第2経路とを含み、該第1経路と第2経路とが、それぞれ、前記物体の寸法に許容される最大公差および最小公差に基づくものである 請求項1または請求項2 に記載の方法。
  4. 4
    前記測定プローブは、タッチトリガープローブである請求項1乃至3のうちのいずれかに記載の方法。
  5. 5
    前記測定プローブによって取得された前記プローブ測定データの状態の変化は、振れたプローブの状態と振れないプローブの状態との間の変化である請求項4に記載の方法。
  6. 6
    前記物体に対する前記経路は、第1経路のみを含む請求項1または請求項2に記載の方法。
  7. 7
    前記測定プローブは、アナログプローブである請求項1乃至請求項3、または、請求項6のうちのいずれかに記載の方法。
  8. 8
    前記測定プローブは、ノンコンタクトプローブである請求項1乃至請求項3、または、請求項6のうちのいずれかに記載の方法。
  9. 9
    前記プローブ測定データが、所定の測定値の閾値を横切る場合、前記プローブ測定データの状態における変化が、生じる請求項7または請求項8に記載の方法。
  10. 10
    前記所定の測定値閾値は、少なくとも1つの前記物体の公差に依存する請求項9に記載の方法。
  11. 11
    前記プローブ測定データが、所定の測定範囲からその範囲外に変化する場合、前記プローブ測定データの状態における変化が生じる請求項7乃至請求項10のうちのいずれかに記載の方法。
  12. 12
    前記所定の測定範囲は、少なくとも1つの前記物体の公差に依存する請求項11に記載の方法。
  13. 13
    前記測定プローブが、前記経路の回りで動かされるとき、前記測定プローブが、該プローブによって取得されるプローブ測定データを監視する前記ステップを実行するためのチェックユニットを含む前記請求項1乃至請求項12のうちのいずれかに記載の方法。
  14. 14
    前記測定プローブは、関連するチェックユニットにプローブ測定データを出力し、あらゆるプローブ測定データを監視する前記ステップは、前記関連するチェックユニットによって実行される請求項1乃至請求項12のうちのいずれかに記載の方法。
  15. 15
    インターフェースおよび制御装置のうちの少なくとも一方は、前記関連するチェックユニットを含む請求項14に記載の方法。
  16. 16
    前記測定プローブを前記物体に対する経路の周囲で動かす前記ステップは、誤った測定データを与えることのなく出来るだけ速く移動する前記プローブによって実行される請求項1乃至請求項15のうちのいずれかに記載の方法。
  17. 17
    前記方法は、最初の走査がある領域内の障害を知らせた場合、障害の正確な位置を見つけるために前記物体の前記領域を再走査するさらなるステップを含む前記請求項1乃至請求項16のうちのいずれかに記載の方法。
  18. 18
    前記物体の領域を再走査する前記ステップは、前記最初の走査よりも遅い速度で実行される請求項17に記載の方法。
  19. 19
    前記物体の寸法が公差に合致していない場合、操作者に示すようにセンサ出力部をもたらすステップを含む請求項1乃至請求項18のうちのいずれかに記載の方法。
  20. 20
    前記 座標位置決め 装置は、工作機械動作を制御するためのメインプロセッサを有する工作機械 からなり、 前記物体の寸法が公差に合致していないことを示す前記ステップは、該指示を前記メインプロセッサに供給することを含む請求項1乃至請求項19のうちのいずれかに記載の方法。
Independent claims20