JP4366362B2

Relative calibration for dosimetric devices

Abstract

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JP4366362B2, drawing sheet 1
Sheet 1 of 24

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Expired 19 January 2026, 0.7 years ago.

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8 claims: 2 independent, 6 dependent

  1. 1
    画像取得装置の線量応答を校正する線量応答校正システムであって、 供与する放射線量の強度、位置、および、持続時間、を含む処置計画に基づいて、供与する放射線量分布を示す線量マップを生成する 処置計画システムと、 処置計画を放射線検出器に適用した結果検出される放射線量の強度分布を示す取得画像 を出力す る 画像取得装置と、 処置計画に対し生成された線量マップと、当該処置計画に対し出力された取得画像と、に基づいて、当該線量マップにより示される供与線量と当該取得画像の画素値の示す線量強度とを関連付ける 自己校正曲線を 生成 する 自己校正曲線生成 手段と、 第1の処置計画に対して生成・出力された、第1の線量マップと第1の取得画像とに基づいて、前記自己校正曲線生成手段により生成された第1の自己校正曲線を取得した後、前記第1の処置計画とは異なる第2の処置計画に対して生成・出力された第2の線量マップと第2の取得画像とに基づいて、前記自己校正曲線生成手段により生成された第2の自己校正曲線を取得し、当該第1および当該第2の自己校正曲線の差または適合を少なくとも1つ特定し、特定された当該少なくとも1つの差または適合に基づいて、当該第2の取得画像を変更し、変更された当該第2の取得画像に、前記第1の自己校正曲線を適用して、前記画像取得装置の線量応答を校正する校正手段と、 を備え る線 量応答校正システム。
  2. 2
    前記 自己校正曲 線生成手 段は、前記線量マップと前記取得画像のそれぞれを複数の幾何学領域に分割する手段を備える、請求項1に記載のシステム。
  3. 3
    前記 自己校正曲 線生成手 段は、前記線量マップと前記取得画像のそれぞれを複数の線量範囲に分割する手段を備える、請求項1に記載のシステム。
  4. 4
    前記線量マップと前記取得画像を列形式で表わす手段をさらに備える、請求項1に記載のシステム。
  5. 5
    前記自己校正曲線を作成するのに使用されるべき前記線量マップの部分及び前記取得画像の部分を判別するために使用可能な相関閾値をさらに有する、請求項1に記載のシステム。
  6. 6
    前記 処置計画システム 、前記 画像 取得 装置、 前記自己校正曲線 生成 手段 、および、前記校正手段、 のうちの少なくとも1つは、コンピュータ読取可能な媒体に有形的に組み込まれたコンピュータ実行可能な指令を有する、請求項1に記載のシステム。
  7. 7
    前記第2の処置計画は1つ以上存在し、 前記校正手段は、前記第2の処置計画のそれぞれに対し生成・出力された第2の線量マップと第2の取得画像とに基づいて、前記自己校正曲線生成手段により生成された第2の自己校正曲線をそれぞれ取得し、生成された当該第2の取得画像のそれぞれについて、対応する当該第2の自己校正曲線の、前記第1の自己校正曲線との差または適合を少なくとも1つ特定し、特定された当該少なくとも1つの差または適合に基づいて、当該第2の取得画像を変更し、変更された当該第2の取得画像に、前記第1の自己校正曲線を適用して、前記画像取得装置の線量応答を校正する、請求項1に記載のシステム。
  8. 8
    処置計画システムと、画像取得装置と、自己校正曲線生成手段と、校正手段と、を備えるシステムによる、線量応答校正方法であって、 前記処置計画システムが、供与する線量の強度、位置、および、持続時間、を含む処置計画に基づいた、供与線量分布を示す線量マップを生成するステップと、 前記画像取得装置が、処置計画を放射線検出器に適用した結果検出される放射線量の強度分布を示す取得画像を出力するステップと、 前記自己校正曲線生成手段が、処置計画に対し生成された線量マップと、当該処置計画に対し出力された取得画像と、に基づいて、当該線量マップにより示される供与線量と当該取得画像の画素値の示す線量強度とを関連付ける自己校正曲線を生成するステップと、 前記校正手段が、第1の処置計画に対して生成・出力された第1の線量マップと第1の取得画像とに基づいて、前記自己校正曲線生成手段により生成された第1の自己校正曲線を取得した後、前記第1の処置計画とは異なる第2の処置計画に対して生成・出力された第2の線量マップと第2の取得画像とに基づいて、前記自己校正曲線生成手段により生成された第2の自己校正曲線を取得し、当該第1および当該第2の自己校正曲線の差または適合を少なくとも1つ特定し、特定された当該少なくとも1つの差または適合に基づいて、当該第2の取得画像を変更し、変更された当該第2の取得画像に、前記第1の自己校正曲線を適用して、前記画像取得装置の線量応答を校正するステップと、 を備える 線量応答校正方法。
Independent claims8