JP4163003B2

The use of conductor compositions in electronic circuits

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Expired 4 April 2022, 4.5 years ago.

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3 claims: 3 independent, 0 dependent

  1. 1
    (a)銀、ニッケル、およびそれらの誘導体のうちの少なくとも1種、(b)1種または複数種の無機バインダー、および(c)亜鉛の細かく割られた粒子を含む組成物の使用であって、構成成分(a)、(b)および(c)が、導電性パターンのはんだ接着性を維持しつつ、固有抵抗を増加させる目的で、基材上へ導電性パターンを製造するに際し、液体ビヒクル中に分散され、構成成分(a)が組成物中に存在する全固形分の60~75重量%であり、かつ、構成成分(c)が組成物中に存在する全固形分の10~20重量%であり、構成成分(a)、(b)および(c)の全量は、組成物の60~90重量%であることを特徴とする組成物の使用。
  2. 2
    導電性パターンのはんだ接着性を維持しつつ、固有抵抗を増加させる方法であって、前記導電性パターンの製造において(a)銀、ニッケル、およびそれらの誘導体のうちの少なくとも1種、(b)1種または複数種の無機バインダー、および(c)亜鉛の細かく割られた粒子を含む組成物を利用することを含み、構成成分(a)、(b)および(c)が液体ビヒクル中に分散されており、構成成分(a)が組成物中に存在する全固形分の60~75重量%であり、かつ、構成成分(c)が組成物中に存在する全固形分の10~20重量%であり、構成成分(a)、(b)および(c)の全量は、組成物の60~90重量%であることを特徴とする方法。
  3. 3
    液体ビヒクル中に分散された(a)銀、ニッケル、およびそれらの誘導体のうちの少なくとも1種、および(b)1種または複数種の無機バインダーの細かく割られた粒子を含む組成物から製造された導電性パターンの固有抵抗を増加させる方法であって、前記方法が(c)前記組成物中へ亜鉛の細かく割られた粒子の組み入れを含み、構成成分(a)が組成物中に存在する全固形分の60~75重量%であり、かつ、構成成分(c)が組成物中に存在する全固形分の10~20重量%であり、構成成分(a)、(b)および(c)の全量は、組成物の60~90重量%であることを特徴とする方法。
Independent claims3