JP2010540970A

Combined object capturing system and display device and associated method

Abstract

Provided are an integrated object capture system and display device and related methods for capturing and measuring an object near a display device. An object capture system is an at least one projection device for projecting a structured light pattern onto the surface of an object and at least one detection for capturing at least one image of the structured light pattern acting on the surface of the object. It is possible to include a device and a computing device for making measurements on the captured image. The display device can provide a position with respect to the object and make assumptions about the object capture system. The object capture system may be integrated with the display device, attached to the device, or otherwise positioned side by side with the device. The measurements are constantly processable and it is possible to determine the level of use of the display device, the computer connected to the display device, or any device connected to the display device.

Term

Projected expiry 2 October 2028.

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20 claims: 2 independent, 18 dependent

  1. 1
    有形物体の形状の3D測定のためのシステムであって、 表示装置と、 構造化光パターンを物体の表面上に投影するための少なくとも1つの投影装置と、 前記物体の前記表面の少なくとも1つの画像を取り込むための少なくとも1つの検出装置であって、前記検出装置のうちの少なくとも1つは、前記物体の前記表面上に作用する前記構造化光パターンの少なくとも1つの画像を取り込む、前記少なくとも1つの検出装置と、 取り込んだ前記画像に関する測定を求めるためのコンピューティング装置とを備えたシステム。
  2. 2
    前記表示装置は、前記物体に対する位置及び向きを提供して前記少なくとも1つの検出装置に関して仮定する、請求項1に記載のシステム。
  3. 3
    少なくとも1つの投影装置及び少なくとも1つの検出装置は、前記表示装置と統合された、請求項2に記載のシステム。
  4. 4
    少なくとも1つの投影装置及び少なくとも1つの検出装置は、前記表示装置から分離した、請求項2に記載のシステム。
  5. 5
    前記表示装置は、コンピュータディスプレイである、請求項2に記載のシステム。
  6. 6
    前記物体は、前記表示装置のユーザの顔である、請求項2に記載のシステム。
  7. 7
    前記測定は、前記表示装置に接続されたコンピュータの使用のレベルを求める、請求項2に記載のシステム。
  8. 8
    前記コンピューティング装置は、前記測定を少なくとも1つの履歴測定と比較する、請求項2に記載のシステム。
  9. 9
    前記履歴測定は、前記表示装置に接続されたコンピュータの使用の所定のレベルと関連付けられた、請求項8に記載のシステム。
  10. 10
    前記測定は、絶えず処理されて前記表示装置に接続された前記コンピュータの使用の前記レベルを求める、請求項9に記載のシステム。
  11. 11
    表示装置の近くに位置決めされた物体の形状の3D測定のための方法であって、 構造化光パターンを少なくとも1つの投影装置から表示装置の近くに位置決めされた前記物体の表面上に投影するステップと、 少なくとも1つの検出装置により前記物体の前記表面の少なくとも1つの画像を取り込むステップであって、取り込んだ前記画像のうちの少なくとも1つは前記物体の前記表面上に作用する前記構造化光パターンの画像を含む、ステップと、 前記物体の前記表面に関する測定を求めるステップとを含む方法。
  12. 12
    前記表示装置は、前記物体に対する位置及び向きを提供して前記検出装置に関して仮定する、請求項11に記載の方法。
  13. 13
    少なくとも1つの投影装置及び少なくとも1つの検出装置は、前記表示装置と統合された、請求項12に記載の方法。
  14. 14
    少なくとも1つの投影装置及び少なくとも1つの検出装置は、前記表示装置から分離した、請求項12に記載の方法。
  15. 15
    前記表示装置は、コンピュータディスプレイである、請求項12に記載の方法。
  16. 16
    前記表示装置の使用のために配置された物体上に作用するように、前記少なくとも1つの投影装置と、前記少なくとも1つの検出装置とを位置決めするステップを更に含む、請求項12に記載の方法。
  17. 17
    前記測定に基づいて前記表示装置と関連付けられたコンピュータの使用のレベルを提供するステップを更に含む、請求項16に記載の方法。
  18. 18
    前記表示装置と関連付けられたコンピュータの使用のレベルを提供するステップは、 前記測定を少なくとも1つの履歴測定と比較するステップと、 前記測定が前記履歴測定に対応する場合、前記コンピュータの使用を可能にするステップと、 前記測定が前記履歴測定に対応できない場合、前記コンピュータの使用を拒否するステップとを更に含む、請求項17に記載の方法。
  19. 19
    前記履歴測定は、前記表示装置に接続されたコンピュータの使用の所定のレベルと関連付けられた、請求項18に記載の方法。
  20. 20
    前記測定を絶えず処理して、前記表示装置に接続された前記コンピュータの使用の前記レベルを求めるステップを更に含む、請求項19に記載の方法。
Independent claims20