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EP1862839B2

Microscope with improved resolution

Abstract

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EP1862839B2, drawing sheet 1
Sheet 1 of 10

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Expires 25 May 2027.

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  1. 1
    Microscope with increased resolution through partial spatial superposition in the illumination through an excitation beam and a de-excitation beam and/or a switching beam in a fluorescent sample, with a laser for producing an excitation beam path (AN) for illuminating a sample (PR) and with a laser for producing a de-excitation beam path (AB) or a switching beam path for illuminating the sample (PR), with a scanner (SC) and with an objective (0), and also with a detector (DE) for detecting the sample light, with the excitation beam path (AN) and the de-excitation beam path (AB) or switching beam path running via the scanner (SC) and via the objective (O) for scanning sampling of the sample (PR), and a beamsplitter (ST) for splitting the de-excitation beam path (AB) or switching beam path into two partial beam paths and a beam unifier (SV) for superposing the split partial beam paths being arranged in the de-excitation beam path (AB) or switching beam path, characterized in that an extension (DL) of the light path for incoherent superposition of the partial beam paths is arranged in one of the partial beam paths of the de-excitation beam path (AB) or switching beam path and a spiral phase mask (SM) is situated in this partial beam path and a phase mask with a radial phase jump (RM), or a combination (SM/RM) of a phase mask with a radial phase jump and a spiral phase mask, is arranged in the other partial beam path of the de-excitation beam path (AB) or switching beam path and the masks are situated in or in the vicinity of the pupil plane of the objective (O) or there is a pupil optical system (PO) for imaging into the pupil plane of the objective. Microscope à résolution accrue par superposition spatiale partielle dans l'éclairage par un rayon excitant et un rayon désexcitant et/ou par un rayon de commutation dans un échantillon fluorescent, comportant un laser pour générer une trajectoire de rayon excitant (AN) pour l'éclairage de l'échantillon (PR) et un laser pour générer une trajectoire de rayon désexcitant (AB) ou une trajectoire de rayon de commutation pour éclairer l'échantillon (PR), comprenant un scanner (SC) et un objectif (O), ainsi qu'un détecteur (DE) pour la détection de la lumière de l'échantillon, la trajectoire de rayon excitant (AN) et la trajectoire de rayon désexcitant (AB) ou la trajectoire de rayon de commutation passant par le scanner (SC) et l'objectif (O) pour balayer l'échantillon (PR) en le scannant, et un diviseur de rayon (ST) permettant de scinder la trajectoire de rayon désexcitant (AB) ou la trajectoire de rayon de commutation en deux sous-trajectoires de rayon et un réunisseur de rayon (SV) permettant de superposer les sous-trajectoires de rayon scindées étant disposés dans la trajectoire de rayon désexcitant (AB) ou la trajectoire de rayon de commutation, caractérisé en ce que, dans une des sous-trajectoires de rayon de la trajectoire de rayon désexcitant (AB) ou de la trajectoire de rayon de commutation, est disposé un prolongement (DL) de la voie lumineuse permettant la superposition incohérente des sous-trajectoires de rayon et un masque de phase spiralé (SM) se trouve dans cette sous-trajectoire de rayon et, dans l'autre sous-trajectoire de rayon de la trajectoire de rayon désexcitant (AB) ou de la trajectoire de rayon de commutation, est disposé un masque de phase à saut de phase radial (RM) ou une combinaison (SM/RM) d'un masque de phase à saut de phase radial et d'un masque de phase spiralé, et les masques se trouvent dans ou à proximité du plan de la pupille de l'objectif (O) ou une optique de pupille (PO) destinée à la reproduction dans le plan de la pupille de l'objectif est disponible. Mikroskop mit erhöhter Auflösung durch teilweise räumliche Überlagerung in der Beleuchtung durch einen Anregungsstrahl und einen Abregungsstrahl und/oder einen Umschaltstrahl in einer fluoreszierenden Probe, mit einem Laser zur Erzeugung eines Anregungsstrahlengangs (AN) zur Beleuchtung der Probe (PR) und mit einem Laser zur Erzeugung eines Abregungsstrahlengangs (AB) bzw. eines Umschaltstrahlengangs zur Beleuchtung der Probe (PR), mit einem Scanner (SC) und mit einem Objektiv (O), sowie mit einem Detektor (DE) zur Detektion des Probenlichtes, wobei der Anregungsstrahlengang (AN) und der Abregungsstrahlengang (AB) bzw. Umschaltstrahlengang über den Scanner (SC) und über das Objektiv (O) zur scannenden Abtastung der Probe (PR) verläuft, und im Abregungsstrahlengang (AB) bzw. Umschaltstrahlengang ein Strahlteiler (ST) zur Aufspaltung des Abregungsstrahlenganges (AB) bzw. Umschaltstrahlengangs in zwei Teilstrahlengänge und ein Strahlvereiniger (SV) zur Überlagerung der aufgespalteten Teilstrahlengänge angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, dass in einem der Teilstrahlengänge des Abregungsstrahlengang (AB) bzw. Umschaltstrahlengangs zur inkohärenten Überlagerung der Teilstrahlengänge eine Verlängerung (DL) des Lichtwegs angeordnet ist und sich in diesem Teilstrahlengang eine Spiralphasenmaske (SM) befindet und im anderen Teilstrahlengang des Abregungsstrahlengang (AB) bzw. Umschaltstrahlengangs eine Phasenmaske mit radialem Phasensprung (RM), oder eine Kombination (SM/RM) aus einer Phasenmaske mit radialem Phasensprung und einer Spiralphasenmaske angeordnet ist und die Masken in oder in der Nähe der Pupillenebene des Objektivs (O) liegen oder eine Pupillenoptik (PO) zur Abbildung in die Pupillenebene des Objektivs vorhanden ist.
  2. 2
    Microscopic method with an improved resolution, using a microscope according to Claim 1, wherein a fluorescent sample is, in chronological succession, illuminated by the excitation beam and the de-excitation beam or switching beam. Mikroskopisches Verfahren mit erhöhter Auflösung unter Verwendung eines Mikroskops nach Anspruch 1, wobei eine fluoreszierende Probe zeitlich nacheinander mit dem Anregungsstrahl und dem Abregungsstrahl oder Umschaltstrahl beleuchtet wird. Procédé microscopique à définition accrue en utilisant un microscope selon la revendication 1, un échantillon fluorescent étant exposé successivement dans le temps au rayon excitant et au rayon désexcitant ou au rayon ultrasonore.