AT391859B

Dielectric substrate with reduced and stabilized surface electrical conductivity, process for its manufacture, and use of the substrate.

Abstract

In order to reduce and stabilize the electrical conductivity of surfaces of crystalline, polycrystalline or amorphous structure in such a way that the reduction and stabilisation is permanent and not affected by solvents or temperature changes, it is proposed that the surface of the substrate is cleaned chemically and brought into contact with chlorotrimethylsilane ((CH3)3ClSi) dissolved in at least one solvent, preferably a low chlorinated hydrocarbon (e.g. chloroform or dichloromethane), and the solvent and the gaseous substances produced by the chemical reaction are allowed to evaporate off. The valencies involved in the chemical reactions at the surface of the substrate are saturated after passivation with (CH3)3Si radicals.

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Expired 10 April 2009, 17.5 years ago.

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8 claims: 2 independent, 6 dependent

  1. 1
    PATENTANSPRÜCHE 1. Verfahren zur Erniedrigung und Stabilisierung der elektrischen Leitfähigkeit von für die Sensortechnik bestimmten silikathaltigen dielektrischen Substraten mit kristalliner, polykristalliner oder amorpher Struktur, wobei die Oberfläche des Substrates chemisch gereinigt wird, dadurch gekennzeichnet, daß die Oberfläche des Substrates mit in zumindest einem Lösungsmittel aus der Gruppe der Alkohole und halogenierten Kohlenwasserstoffe, vorzugsweise niedrige chlorierte Kohlenwasserstoffe, gelöstem Chlortrimethylsilan ((CHß)ßClSi) in Kontakt gebracht wird und das Lösungsmittel sowie die bei der chemischen Reaktion entstehenden flüssigen und gasförmigen Substanzen anschließend abdampfen gelassen werden.
  2. 2
    Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Lösungsmittel Chloroform oder Dichlormethan verwendet wird.
  3. 3
    Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß eine 5 bis 20%ige ChlortrimethylsilanLösung in Chloroform verwendet wird.
  4. 4
    Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat 15 Sekunden bis 2 Minuten in die Lösung aus Lösungsmittel und Chlortrimethylsilan getaucht wird, daß das Substrat bei Temperaturen zwischen 15° und 50 °C 15 Sekunden bis 2 Minuten an Luft oder in trockener Atmosphäre getrocknet und anschließend mindestens eine 1/2 Stunde gelagert wird.
  5. 5
    Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß als Substrat ein silikathaltiges piezoelektrisches Element verwendet wird. -5Nr. 391 859
  6. 6
    Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß das piezoelektrische Element aus Quarz besteht.
  7. 7
    Verfahren zur Erniedrigung und Stabilisierung der elektrischen Leitfähigkeit von für die Sensortechnik bestimmten silikathaltigen dielektrischen Substraten mit kristalliner, polykristalliner oder amorpher Struktur, 5 wobei die Oberfläche des Substrates chemisch gereinigt wird, dadurch gekennzeichnet, daß die Oberfläche des Substrates mit Chlortrimethylsilan ((CHß)ßClSi) in Kontakt gebracht wird, sowie daß an der Oberfläche angelagerte chemische Zwischenprodukte mit zumindest einem Lösungsmittel aus der Gruppe der Alkohole und halogenierten Kohlenwasserstoffe, vorzugsweise niedrige chlorierte Kohlenwasserstoffe, entfernt werden.
  8. 8
    10 8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß als Lösungsmittel Chloroform oder Dichlormethan verwendet wird.